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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42949. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42949
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42950. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42950
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42951. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42951
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42952. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42952
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42953. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42953
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42954. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42954
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42955. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42955
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42956. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42956
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42957. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42957
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42958. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42958
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42959. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42959
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42960. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42960
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42961. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42961
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42962. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42962
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42963. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42963
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42964. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42964
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42965. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42965
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42966. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42966
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42967. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42967
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42968. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42968
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42969. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42969
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42970. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42970
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42971. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42971
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42972. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42972
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42973. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42973
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42974. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42974
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42975. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42975
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42976. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42976
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42977. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42977
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42978. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42978
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42979. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42979
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42980. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42980
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42981. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42981
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42982. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42982
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42983. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42983
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42984. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42984
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42985. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42985
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42986. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42986
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42987. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42987
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42988. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42988
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42989. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42989
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42990. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42990
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42991. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42991
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42992. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42992
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42993. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42993
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42994. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42994
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42995. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42995
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42996. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42996
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42997. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42997
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42998. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42998
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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