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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43349. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43349
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)」区切り.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43350. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43350
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43351. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43351
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43352. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43352
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43353. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43353
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43354. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43354
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43355. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43355
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

(備考)」区切り.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43356. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43356
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43357. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43357
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43358. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43358
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

(備考)」区切り.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43359. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43359
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43360. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43360
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43361. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43361
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43362. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43362
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43363. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43363
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43364. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43364
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43365. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43365
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43366. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43366
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43367. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43367
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43368. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43368
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43369. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43369
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43370. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43370
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43371. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43371
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43372. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43372
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43373. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43373
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43374. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43374
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43375. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43375
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43376. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43376
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43377. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43377
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43378. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43378
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43379. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43379
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43380. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 50K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43380
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43381. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43381
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43382. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43382
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43383. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43383
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43384. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43384
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43385. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43385
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43386. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43386
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43387. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 330K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43387
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43388. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43388
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43590. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 50K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43590
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89. 8. 28」.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43591. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43591
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43592. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43592
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43593. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43593
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43594. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43594
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43595. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43595
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43596. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43596
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43597. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43597
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43598. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43598
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43599. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43599
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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