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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43600. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43600
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43601. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43601
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43602. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43603. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43603
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　C. 日付元記載「1989. 8. 28.」.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43604. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43604
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43605. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43605
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43606. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43606
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43607. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43607
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43608. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43608
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43609. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43609
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43610. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43610
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43611. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43611
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43612. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43612
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43613. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43613
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43614. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43614
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43615. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43615
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43616. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43616
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43617. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43617
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43618. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43618
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A　　ピンボケ.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43619. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43619
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43620. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43620
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43621. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43621
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43622. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43622
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43623. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43623
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43624. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43624
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43625. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43625
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43626. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43626
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43627. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43627
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43628. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43628
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43629. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43629
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43630. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43630
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43631. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43631
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43632. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43632
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43633. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43633
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43634. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43634
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43635. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43635
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43636. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43636
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43637. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43638. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43638
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43639. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43639
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43640. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43640
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43641. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43641
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43642. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43642
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43643. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43643
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43644. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43644
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43645. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43645
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43646. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43646
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43647. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43647
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43648. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43648
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43649. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43649
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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