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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43759. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43759
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43760. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43760
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0　just.

(備考)A γ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43761. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43761
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)over 1step(M-L).

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43762. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43762
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)under.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43763. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43763
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↑.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43764. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43764
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A δ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43765. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43765
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B δ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43766. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43766
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B δ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43767. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43767
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A δ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43768. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43768
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43769. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43769
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43770. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43770
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43771. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43771
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43772. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43772
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)75とg 逆.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43773. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43773
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43774. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43774
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43775. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43775
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)72とg 逆.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43776. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43776
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43777. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43777
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G.B.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43778. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43778
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G.B.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43779. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43779
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)T-Controlled A γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43780. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43780
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43781. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43781
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43782. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43782
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43783. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43783
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43784. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43784
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43785. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43785
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43786. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43786
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43787. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43787
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43788. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43788
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43789. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43789
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43790. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43790
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43791. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43791
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43792. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43792
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43793. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43793
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43794. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43794
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43795. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43795
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43796. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43796
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)D β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43797. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43797
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)E β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43798. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43798
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43799. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43799
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43800. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43800
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43801. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43801
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43802. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43802
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↓　下とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43803. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43803
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↑　上とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43804. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43804
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43805. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43805
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

(備考)T-Uncontrolled，　露光短 sizeを見るため.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43806. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43806
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

(備考)露光長　中をみるため.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43807. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43807
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43808. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43808
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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