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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43859. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43859
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43860. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43860
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43861. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43861
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (ブラック条件からのずれs)Med小右に3steps.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43862. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43862
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43863. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43863
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43864. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43864
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)g　左向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43865. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43865
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43866. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43866
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43867. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43867
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43868. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43868
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43869. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43869
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43870. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43870
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43871. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43871
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43872. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43872
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g　右向き.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43873. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43873
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43874. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43874
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43875. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43875
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43876. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, LM., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43876
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)LM.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43877. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43877
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43878. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43878
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43879. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43879
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43880. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43880
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just ボイドコントラスト.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43881. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43881
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)時計回りに3steps.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43882. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43882
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43883. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43883
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43884. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 59K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43884
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43885. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 15K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43885
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)一般にGrain小さい。.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43886. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 15K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43886
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ごみみたいのが沢山あるが、focusを.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43887. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 15K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43887
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)変えても関係ない。.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43888. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43888
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43889. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43889
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43890. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43890
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43891. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43891
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43892. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43892
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43893. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43893
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43894. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43894
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43895. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43895
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43896. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43896
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43897. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43897
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43898. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43898
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43899. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43899
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α3.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43900. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43900
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43901. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43901
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α3.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43902. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 150K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43902
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α3.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43903. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43903
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43904. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43904
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43905. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43905
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β1.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43906. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43906
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43907. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43907
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43908. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43908
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β2.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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