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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7772. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7772
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7773. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7773
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7774. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7774
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7775. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

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資料番号: L-7775
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7776. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7776
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7777. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7777
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7778. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7778
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7779. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7779
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7780. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7780
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7781. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7781
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7782. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7782
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7783. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7783
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7784. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7784
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)薄いところにはコンタミ.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7785. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7785
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小　2.5g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7786. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7786
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 2.8g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7787. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7787
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7788. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7788
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7789. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7789
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7790. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7790
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7791. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7791
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 3.0g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7792. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7792
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大 3.3g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7793. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7793
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7794. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7794
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)エッジ以外にゴミなし.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7795. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7795
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7796. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7796
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7797. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7797
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7798. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7798
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7799. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7799
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)ゴミ.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7800. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7800
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7801. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7801
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7802. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7802
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7803. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7803
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7804. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7804
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7805. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7805
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7806. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7806
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7807. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7807
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣　↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7808. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7808
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)　　↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7809. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7809
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7810. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7810
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7811. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7811
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7812. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7812
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7813. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7813
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7814. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7814
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7815. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7815
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7816. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7816
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7817. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7817
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7818. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7818
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7819. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7819
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大絞り.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7820. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7820
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7821. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7821
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小絞り.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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