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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44359. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44359
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44360. SUS, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44360
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44361. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44361
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44362. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44362
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44363. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44363
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44364. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44364
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44365. SUS, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44365
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44366. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44366
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)0-22. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44367. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44367
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44368. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44368
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44369. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44369
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44370. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44370
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44371. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44371
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44372. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44372
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44373. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44373
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44374. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44374
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44375. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44375
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44376. SUS, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44376
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44377. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44377
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)020.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44378. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44378
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44379. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44379
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44380. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44380
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44381. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44381
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44382. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44382
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44383. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44383
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44384. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44384
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44385. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44385
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44386. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44386
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44387. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44387
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44388. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44388
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44389. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44389
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44390. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44390
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)再.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44391. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44391
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44392. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44392
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44393. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44393
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44394. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44394
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44395. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44395
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44396. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, ED, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44396
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44397. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44397
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44398. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44398
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44399. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44399
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44400. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44400
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44401. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44401
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44402. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44402
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44403. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44403
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44404. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44404
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44405. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44405
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44406. SUS, K274, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44406
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44407. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44407
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)再.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44408. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44408
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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