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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45248. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45248
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45249. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45249
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45250. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45250
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45251. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45251
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45252. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45252
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)on G.B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45253. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45253
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)on G.B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45254. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45254
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)逆のG.B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45255. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45255
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45256. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45256
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45257. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45257
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45258. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45258
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45259. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45259
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45260. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45260
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45261. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45261
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45262. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45262
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45263. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45263
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)disl.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45264. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45264
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)disl.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45265. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45265
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)disl.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45266. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45266
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)on G.B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45267. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45267
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45268. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45268
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45269. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45269
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45270. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45270
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45271. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45271
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45272. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45272
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45273. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45273
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45274. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45274
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45275. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45275
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45276. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45276
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45277. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45277
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45278. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45278
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45279. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, BF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45279
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45280. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45280
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45281. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45281
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45282. Cu-2Si, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45282
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45283. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45283
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45284. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45284
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45285. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45285
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45286. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45286
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45287. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45287
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45288. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, ED, 55cm., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45288
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45289. Ni, A902, RTNS-IIHin, 90℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45289
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A902. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多い。ボツ　再ケンマ要.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45290. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45290
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45291. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45291
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45292. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45292
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45293. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45293
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45294. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45294
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45295. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, BF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45295
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45296. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45296
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45297. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45297
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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