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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46437. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46437
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46438. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46438
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46439. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46439
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46440. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46440
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46441. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46441
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46442. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46442
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↓　(110).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46443. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46443
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46444. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46444
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46445. SUS316, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46445
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46446. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46446
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46447. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46447
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46448. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46448
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46449. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46449
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46450. SUS316, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46450
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46451. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46451
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46452. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46452
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46453. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46453
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46454. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46454
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46455. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46455
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46456. SUS316, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46456
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46457. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46457
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46458. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46458
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46459. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46459
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46460. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46460
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46461. SUS316, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46461
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46462. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46462
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46463. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46463
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46464. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46464
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46465. SUS316, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46465
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46466. SUS316, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46466
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46467. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46467
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46468. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46468
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46469. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46469
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46470. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46470
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46471. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46471
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46472. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46472
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46473. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46473
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46474. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46474
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46475. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46475
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46476. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46476
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.0).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46477. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46477
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46478. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46478
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46479. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46479
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46480. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46480
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46481. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46481
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46482. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46482
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46483. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46483
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46484. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46484
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46485. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46485
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46486. SUS316, JMTR uncontrolled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46486
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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