メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46637. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46637
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46638. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46638
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46639. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46639
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46640. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, ED, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46640
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46641. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46641
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)90.3.8 ケンマ.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46642. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, BF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46642
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46643. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46643
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46644. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46644
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46645. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46645
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46646. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, BF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46646
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46647. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46647
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46648. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46648
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46649. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46649
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46650. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46650
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46651. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46651
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46652. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46652
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46653. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46653
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)2at%Siはもろくなっており、ピンセット.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46654. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46654
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)でつまんだだけで割れてしまった。.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46655. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46655
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)EMはかけらを観察したが、D3はケンマ.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46656. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46656
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)出来なかった。代わりに0.3at%.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46657. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46657
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46658. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46658
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46659. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46659
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46660. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46660
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46661. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46661
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46662. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46662
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)voidではない.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46663. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46663
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidではない.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46664. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46664
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)jst.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46665. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46665
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋1.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46666. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46666
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋2.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46667. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46667
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋3.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46668. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46668
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋4.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46669. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46669
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46670. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46670
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46671. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46671
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46672. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46672
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46673. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46673
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46674. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46674
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46675. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46675
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)すぐ隣.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46676. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46676
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46677. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46677
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)2g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46678. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46678
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)3g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46679. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46679
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)4g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46680. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46680
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)5g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46681. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46681
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)6g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46682. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46682
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)7g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46683. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46683
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46684. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46684
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)8g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46685. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46685
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)9g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46686. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46686
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)10g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ