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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7922. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7922
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑ A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7923. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7923
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑ A .

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7924. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7924
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)↑ A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7925. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7925
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)B.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7926. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7926
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7927. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, BF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7927
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7928. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7928
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓　ST.2.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7929. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7929
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7930. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7930
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7931. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7931
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7932. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7932
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7933. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7933
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7934. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7934
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓ 歪.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7935. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7935
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓ ST.1.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7936. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7936
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7937. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7937
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7938. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7938
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7939. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7939
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7940. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7940
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↓　　ST.2.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7941. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7941
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7942. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7942
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑ ED略.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7943. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7943
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7944. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7944
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7945. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7945
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7946. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7947. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7947
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7948. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7948
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7949. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7949
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7950. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7950
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7951. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7951
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7952. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7952
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7953. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7953
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7954. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7954
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7955. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7955
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7956. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7956
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7957. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7957
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7958. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7958
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7959. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7959
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7960. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7960
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7961. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7961
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7962. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7962
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7963. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7963
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7964. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7964
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7965. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7965
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7966. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7966
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7967. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7967
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7968. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)引張り1%.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7969. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7970. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7971. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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