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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46737. Ni-0.3Sn, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46737
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46738. Ni-0.3Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46738
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46739. Ni-0.3Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46739
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46740. Ni-0.3Sn, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46740
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46741. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46741
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 3. 9」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46742. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46742
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46743. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46743
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46744. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46744
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46745. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, DF, 10K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46745
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46746. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46746
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46747. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46747
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46748. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46748
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46749. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46749
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46750. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46750
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46751. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46751
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 3. 9」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46752. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46752
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46753. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46753
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46754. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46754
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46755. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46755
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46756. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46756
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46757. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46757
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46758. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46758
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46759. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46759
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46760. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 9.

 アイテム
資料番号: L-46760
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48128. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48128
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A. 日付元記載「1990. 6. 25」.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48129. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48129
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48130. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48130
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48131. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48131
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48132. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 50K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48132
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48133. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 30K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α　A.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48134. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48134
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48135. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48135
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48136. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 50K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48136
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48137. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 30K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48137
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48138. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 20K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48138
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ここから奥へ40まで.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48139. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 20K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48139
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48140. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 20K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48140
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48141. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 10K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48141
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48142. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 5K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48142
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)short expose.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48143. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 5K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48143
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)long expose.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48144. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48144
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ（先端の丸み）チェック用.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48145. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48145
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)ボイド無.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48146. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 10K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48146
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48147. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 10K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48147
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48148. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 20K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48148
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48149. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 6K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48149
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)6K.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48150. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 5K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48150
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48151. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 30K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48151
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)サイズ分布用.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48152. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48152
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　A.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48153. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1990. 6. 25.

 アイテム
資料番号: L-48153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: 1990. 6. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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