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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48204. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48204
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)奥.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48205. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48205
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)傾き変える.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48206. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48206
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48207. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48207
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)5K.

(備考)傾き変える.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48208. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48208
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48209. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48209
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)」.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48210. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48210
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)loopいない.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48211. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48211
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48212. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48212
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48213. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48213
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48214. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48214
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48215. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48215
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48216. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48216
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48217. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48217
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48218. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48218
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48219. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48219
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)110.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48220. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48220
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48221. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48221
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48222. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48222
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48223. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48223
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ノート読みとれず　多分dislocation.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48224. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48224
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48225. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48225
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ノート読みとれず　多分dislocation.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48226. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48226
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48227. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48227
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48228. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48228
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48229. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48229
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48231. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48231
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D3.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48232. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48232
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48233. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48233
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48234. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48234
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48235. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48235
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48236. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48236
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48237. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48237
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48238. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48238
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48239. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48239
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48240. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48240
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48241. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48241
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48242. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48242
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48243. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48243
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48244. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48244
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48245. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48245
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48246. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48246
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48247. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48247
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48248. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48248
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48249. Ni-2Ge, JMTR, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48249
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48250. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48250
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48251. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48251
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48252. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48252
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48253. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48253
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48254. Ni-2Ge, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48254
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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