北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59528. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, BF, 50K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59528

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59529. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 20K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59529

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59530. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59530

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59531. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59531

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　just.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59532. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59532

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α over M 4 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59533. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59533

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α under.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59534. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59534

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59535. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59535

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α just.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59536. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59536

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59537. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59537

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59538. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59538

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β just.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59539. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59539

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59540. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59540

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59541. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59541

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59542. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59542

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59543. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59543

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59544. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59544

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α just.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59545. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59545

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59546. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59546

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59547. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59547

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59548. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59548

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β just.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59549. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59549

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59550. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59550

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59551. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59551

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59552. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59552

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59553. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59553

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59554. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59554

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ G＝(220).

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59555. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59555

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59556. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59556

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)δ.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59557. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59557

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ G＝(220).

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59558. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

アイテム

資料番号: L-59558

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [19]90. 9. 12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59559. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59559

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α just.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59560. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59560

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α over 3 step.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59561. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59561

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α under 3 step.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59562. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59562

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59563. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59563

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α sの増加による変化からのI-V判定.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59564. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59564

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59565. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59565

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59566. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59566

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59567. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59567

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59568. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59568

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59569. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59569

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59570. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59570

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59571. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59571

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59572. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59572

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59573. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]

アイテム

資料番号: L-59573

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　　q(200).

日付: [1990年9月12日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59574. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF, 20K., [19]90. 9. 13.

アイテム

資料番号: L-59574

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 9. 13」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]90. 9. 13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59575. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.

アイテム

資料番号: L-59575

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59576. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.

アイテム

資料番号: L-59576

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59577. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.

アイテム

資料番号: L-59577

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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