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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60169. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60169
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60170. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60170
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60171. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60171
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60172. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60172
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60173. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60173
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60174. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60174
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60175. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60175
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60176. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, ED., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60176
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60177. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60177
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60178. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60179. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60180. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60180
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60181. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60181
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60182. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60182
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60183. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60183
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60184. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60184
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60185. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60185
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60186. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60186
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60187. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60187
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界にループが多い。.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60188. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60188
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60189. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60189
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ多い.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60190. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60190
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)粒界近く.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60191. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 15K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60191
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60192. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60193. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60193
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60194. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60194
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60195. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60195
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60196. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60196
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60197. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60198. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60198
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60199. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60199
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60200. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60200
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60201. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 15K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60201
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60202. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイドコントラスト.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60203. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60203
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位コントラスト.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60204. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60204
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60205. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60205
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60206. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60206
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60207. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60207
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60208. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60208
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60209. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60209
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60210. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60210
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60211. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60211
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60212. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60212
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60213. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60213
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60214. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60214
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60215. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)G.B.近くに転位ループ多い.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60216. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60216
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60217. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60217
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60218. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60218
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)g＝200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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