北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60873. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 57cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60873

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)B.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60874. Ni-2Cu, 400℃-U., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60874

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U.

(備考)A70と同視野　」.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60875. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60875

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60876. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60876

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)となりの同じgrain.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60877. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60877

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60878. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60878

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60879. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60879

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)boundary反対grain.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60880. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60880

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)反対grain.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60881. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60881

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60882. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60882

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)小さなcluster　今までボイドと称したもの.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60883. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 5K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60883

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60884. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60884

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60885. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60885

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)loop重なりってtangle.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60886. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60886

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60887. Ni-2Cu, 400℃-U, 低倍., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60887

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (条件・倍率等)低倍.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60888. Ni-2Cu, 400℃-U, 低倍., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60888

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (条件・倍率等)低倍.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60889. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60889

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60890. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60890

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60891. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60891

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60892. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60892

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60893. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60893

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60894. Ni-2Cu, 400℃-U., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60894

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB 抜けがいい（loopいない）.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60895. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

アイテム

資料番号: L-60895

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60896. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60896

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Ni-2Siにはどのgrainの傾きでも.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60897. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60897

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)dnuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60898. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60898

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60899. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60899

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60900. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60900

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60901. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60901

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60902. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60902

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60903. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60903

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60904. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60904

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60905. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60905

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり。顕著ではない。.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60906. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60906

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60907. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60907

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60908. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60908

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ顕著.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60909. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60909

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a 」.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60910. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60910

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)b　　デカループあり。Denuded zone多少狭い.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60911. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 7.3K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60911

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

(備考)a,bが両方写るようにした。.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60912. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60912

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)変な面　」.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60913. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60913

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60914. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60914

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60915. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60915

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60916. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60916

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60917. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60917

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ目立たない（殆どない）denuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60918. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

アイテム

資料番号: L-60918

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61432. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 50K., 1991. 2. 6.

アイテム

資料番号: L-61432

範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: 1991. 2. 6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61433. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 100K., 1991. 2. 6.

アイテム

資料番号: L-61433

範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 2. 6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61434. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

アイテム

資料番号: L-61434

範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61435. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

アイテム

資料番号: L-61435

範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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