北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73017. Ni, A864, 200-U, DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73018. Ni, A864, 200-U, DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73019. Ni, A864, 200-U, DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73020. Ni, A864, 200-U, DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73021. Ni, A864, 200-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73022. Ni, A864, 200-U, DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73023. Ni, A864, 200-U, DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73024. Ni, A864, 200-U, DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73025. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)下記25~34までA,B, 明視野ボイド .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73026. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73027. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73028. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73029. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73030. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73031. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73032. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73033. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73034. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73035. Ni, A864, 200-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)下記3枚 Boundary.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73036. Ni, A864, 200-U, BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73037. Ni, A864, 200-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A864. (照射温度)200-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73038. Ni, A863, 200-C., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A863. (照射温度)200-C.
(備考)89M-37V 下記38~42までBoundary(別Grain).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73039. Ni, A863, 200-C, BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A863. (照射温度)200-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73040. Ni, A863, 200-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A863. (照射温度)200-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73041. Ni, A863, 200-C, ED, 55cm., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A863. (照射温度)200-C. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73042. Ni, A863, 200-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A863. (照射温度)200-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73150. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73151. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73152. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 59K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73153. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73154. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73155. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73156. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73157. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73158. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73159. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73160. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73161. Ni, 200-C(87M-34V), ED, 55cm., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73162. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73163. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73164. Ni, 200-C(87M-34V), DF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73165. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73166. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73167. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73168. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 200K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73169. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73170. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73171. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73172. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73173. Ni, 200-C(87M-34V), BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)200-C(87M-34V). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)C.
追加の絞り込み:
- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16