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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8822. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8822
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8823. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8823
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8824. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8824
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8825. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8825
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8826. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8826
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8827. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8827
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8828. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8828
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8829. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8829
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8830. Ni-2Ge, R344, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8830
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R344. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8831. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8831
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

(備考)quench.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8832. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8832
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8833. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8833
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8834. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8834
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8835. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8835
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)c.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8836. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 32K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8836
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)32K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8837. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8837
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

(備考)a.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8838. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8838
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8839. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8839
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)c.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8840. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8840
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8841. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8841
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8842. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8842
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8843. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8843
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

(備考)c.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8844. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8844
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8845. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8845
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8846. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8846
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)c.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8847. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 3.2K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8847
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)3.2K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8848. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8848
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8849. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8849
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8850. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8850
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)c.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8851. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8851
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8852. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8852
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8853. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8853
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)b.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8854. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8854
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)E.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8855. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8855
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8856. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8856
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8857. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8857
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8858. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8858
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.

(備考)E.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8859. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8859
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8860. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8860
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8861. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8861
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8862. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8862
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8863. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8863
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8864. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8864
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8865. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8865
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8866. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8866
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8867. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8867
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8868. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8868
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8869. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8869
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 (4.5).

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8870. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8870
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8871. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8871
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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