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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73391. Ni, 400-U, BF, 15K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73391
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73392. Ni, 400-U, BF, 15K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73392
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　」.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73393. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73393
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D3→EM　以下393～405はneighbouring Grains.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73394. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73394
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73395. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73395
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73396. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73396
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73397. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73397
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73398. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73398
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73399. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73399
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73400. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73400
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73401. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73401
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73402. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73402
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73403. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73403
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)二つのGrain入り.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73404. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73404
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73405. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73405
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)以上393～405はneighbouring Grains.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73406. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73406
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73407. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73407
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73408. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73408
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73409. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73409
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73410. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73411. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73411
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73412. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73412
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73413. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73413
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73414. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73414
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73415. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73415
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73416. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73416
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73417. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73417
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73418. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73418
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73419. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73420. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73420
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73421. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73421
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73422. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73422
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73423. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73423
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73424. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73424
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73425. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73425
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73426. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73426
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73427. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73427
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73428. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73429. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73429
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73430. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73430
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73431. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73431
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73432. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73432
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)A,B boundary void contarast.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73433. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73433
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)A dislocation contrast.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73434. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73434
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73435. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73435
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)dislocation contarast A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73436. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73436
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)dislocation contarast B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73437. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73437
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)void contast A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73438. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73438
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)void contast B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73439. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73439
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73440. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73440
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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