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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73441. Ni-2Cu, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73441
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73442. Ni-2Cu, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73442
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B .

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73443. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73443
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GBとsurfaceのsink effeciency.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73444. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73444
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73445. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73445
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)同じ倍率でboundaryのdenudec zone.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73446. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73446
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73447. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73447
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)左側Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73448. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73448
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73449. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73449
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73450. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73450
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB. 日付元記載「1991. 7. 24.」. 実験者元記載「by M.K.」.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73451. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73451
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73452. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73452
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73453. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73453
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73454. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73454
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73455. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73455
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73456. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73456
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73457. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73457
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73458. Ni-2Sn, N254, 400-U, ミス., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73458
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73459. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73459
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73460. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73460
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73461. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73461
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73462. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73462
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73463. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73463
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73464. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73464
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73465. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73465
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73466. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73466
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73467. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73467
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73468. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73468
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73469. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73469
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Elongated loopのstereo α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73470. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73470
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73471. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73471
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73472. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73473. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73474. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73475. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73476. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73477. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73478. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73479. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73480. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73481. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73482. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Faulted loopとperfect loopのsize比較.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73483. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73484. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73485. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73486. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73487. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73488. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73489. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220?.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73490. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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