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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73591. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73591
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73592. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73592
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73593. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73593
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a. 実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73594. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73594
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73595. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73595
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73596. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73596
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73597. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73597
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73598. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73598
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73599. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73599
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73600. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73600
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73601. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73601
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73602. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73602
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73603. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73603
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73604. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73604
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73605. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73605
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73606. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73606
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73607. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73607
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73608. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73608
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73609. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73609
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73610. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73610
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73611. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73611
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73612. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73612
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73613. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73613
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73614. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73614
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73615. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73615
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73616. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73616
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73617. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73617
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73618. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73618
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a. 実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73619. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73619
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73620. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73620
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73621. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73621
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73622. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73622
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73623. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73623
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73624. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73624
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73625. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73625
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73626. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73626
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73627. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73627
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73628. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73628
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73629. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73629
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73630. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73630
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73631. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73631
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73632. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73632
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73633. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73633
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73634. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73634
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73635. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73635
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73636. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73636
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73637. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73637
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73638. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 200K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73638
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73639. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73639
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73640. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73640
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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