北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8872. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8873. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0 (4).
(備考)F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8874. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8875. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8876. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8877. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8878. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.
(備考)(quench).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8879. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8880. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8881. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8882. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8883. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8884. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8885. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8886. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8887. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8888. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)番号ダブり A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8889. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8890. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8891. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8892. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8893. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8894. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8895. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8896. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8897. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8898. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8899. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8900. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8901. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8902. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8903. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8904. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8905. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8906. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8907. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8908. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8909. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150L., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150L.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8910. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8911. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8912. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8913. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8914. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8915. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)e-未照射域 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8916. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8917. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8918. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8919. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8920. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8921. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
追加の絞り込み:
- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16