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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74522. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74522
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74523. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74523
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74524. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74524
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74525. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74525
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74526. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74526
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74527. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74527
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74528. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74528
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74529. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74529
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74530. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74530
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74531. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74531
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74532. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74532
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74533. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74533
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74534. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74534
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74535. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74535
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74536. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74537. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74538. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74539. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74539
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74540. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74540
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74541. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74541
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74542. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74543. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74544. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74545. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74546. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74547. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74548. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74549. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74550. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74551. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74552. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74553. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74554. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74555. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74556. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74557. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74558. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74559. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74560. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74561. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74562. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74563. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74563
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74564. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74564
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74565. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74565
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74566. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74566
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74567. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74567
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下記3枚が組.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74568. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74568
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74569. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74569
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74570. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74570
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74571. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74571
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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