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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80142. DF, 200K., [1991年12月30日.]

 アイテム
資料番号: L-80142
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)under 2 steps.

日付: [1991年12月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80143. DF, 200K., 1991. 12. 30 pm 2:15.

 アイテム
資料番号: L-80143
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)under 4 steps この試料　一応完. 日付元記載「1991. 12. 30 pm 2:15」.

日付: 1991. 12. 30 pm 2:15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80144. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80144
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Void, SFT観察　α. 日付元記載. 「1992/1/10（金）」. 実験者元記載「佐鳥」.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80145. Cu, HVEM irrad., ED., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80145
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80146. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80146
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80147. Cu, HVEM irrad., BF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80147
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80148. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80148
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80149. Cu, HVEM irrad., BF., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80149
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80150. Cu, HVEM irrad., DF, 200K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80150
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)SFT像.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80151. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80151
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ループ上のSFT.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80152. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80152
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ループ上のSFT.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80153. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80153
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80154. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80154
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80155. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80155
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT像　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80156. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80156
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　過密　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80158. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80158
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80160. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80160
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80161. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80161
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80162. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80162
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80163. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80163
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80164. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80164
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80165. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80165
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80166. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80166
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80167. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80167
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80168. Cu, HVEM irrad., BF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80168
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)」.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80169. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側　　重ね部. 日付元記載「1992. 1. 14」.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80170. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80171. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80172. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　②.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80173. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　③.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80174. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80175. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80176. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80177. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80178. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側　　マスク　④.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80179. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80180. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑥.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80181. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80182. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80183. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)もう少し厚い側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80184. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

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資料番号: L-80184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80185. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)C-D.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80186. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80187. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80188. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1.5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80189. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80190. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80191. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80192. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80193. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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