メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80244. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain b.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80245. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80246. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80247. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80248. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80249. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80250. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80251. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80252. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c A　以下α.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80253. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80253
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80254. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80254
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80255. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80255
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80256. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80256
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c E.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80257. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80257
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80258. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80258
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c E.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80259. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80259
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c ↓.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80260. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80260
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c ↓.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80261. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80261
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c F.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80262. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80262
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80263. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80263
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80264. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80264
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80265. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80265
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80266. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80266
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c E.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80267. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80267
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c F.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80268. Ni, 20MeV セルフイオン, ED., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80268
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A-B Grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80269. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80269
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain c A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80270. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80270
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain c D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80271. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80271
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain c　A　β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80272. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80272
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c　A　β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80273. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80273
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain c　B β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80274. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80274
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c　B β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80275. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80275
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain c　.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80276. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80276
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c　.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80277. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80277
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain c　D β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80278. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80278
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c　D β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80279. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80279
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain c　F β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80280. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80280
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain c　F β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80281. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80281
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain c β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80282. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80282
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80283. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80283
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80284. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80284
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　α C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80285. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80285
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80286. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80286
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80287. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80287
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　α C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80288. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80288
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain d　α.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80289. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80289
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain d　A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80290. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80290
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80291. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80291
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80292. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80292
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80293. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80293
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ