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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80294. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80294
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80295. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80295
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80296. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80296
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain d　β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80297. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80297
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80298. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80298
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80299. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80299
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80300. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80300
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80301. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80301
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α　C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80302. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80302
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α　C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80303. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80303
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80304. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80304
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80305. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80305
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80306. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80306
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80307. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80307
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)マスクあった付近.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80308. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80308
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain a.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80309. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80309
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain a.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80310. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80310
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain b.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80311. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80311
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80312. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80312
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80313. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80313
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80314. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80314
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain d.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80315. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80315
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain d.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80316. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80316
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80317. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80317
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e 傾き少し変える.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80318. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80318
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80319. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80319
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)4倍　前半×1000.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80320. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80320
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)4倍　後半×1000.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80321. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80321
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A 　18MeV Auイオン照射試料予写. 日付元記載「1/29」.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80322. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80322
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80323. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80323
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)B.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80324. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80324
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)C.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80325. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80325
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)D.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80326. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80326
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)fringe.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80327. Cu3Au+Cuマスク, ボツ., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80327
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ボツ.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80328. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80328
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)エッジ落ちた.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80329. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80329
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)先端部傾き見るため.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80330. Cu3Au+Cuマスク, ED., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80330
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80331. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80331
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C部マスク fringe A部マスクと全く同じgrain.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80332. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80332
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80333. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80333
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)1K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80334. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80334
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.

(備考)Z.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80335. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80335
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)1K.

(備考)Z.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80336. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80336
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80337. Cu+Cuマスク, 3K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80337
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)3K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80338. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80338
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)B.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80339. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80339
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)Z ゴミ二つ.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80340. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80340
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)Z　2度傾斜.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80341. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80341
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)Y 2度傾斜.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80342. Cu+Cuマスク, 10K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80342
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)10K.

(備考)A部マスク.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80343. Cu+Cuマスク, ボツ., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80343
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)ボツ.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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