北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80394. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80394

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80395. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80395

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80396. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80396

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　a.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80397. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80397

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　b.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80398. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80398

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　c.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80399. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, ED, 55cm., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80399

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80400. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80400

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80401. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80401

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80402. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80402

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80403. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, 0.4K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80403

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (条件・倍率等)0.4K.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80404. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, 0.2K., [1992年2月2日.]

アイテム

資料番号: L-80404

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (条件・倍率等)0.2K.

(備考)」.

日付: [1992年2月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80405. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80405

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area A α. 日付元記載「1992. 2. 4」.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80406. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80406

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80407. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80407

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80408. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80408

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80409. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80409

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80410. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80410

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80411. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80411

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80412. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80412

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80413. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80413

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80414. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80414

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)Area B.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80415. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80415

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80416. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80416

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80417. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80417

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80418. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80418

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80419. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80419

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80420. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80420

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80421. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80421

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80422. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80422

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80423. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80423

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80424. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80424

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80425. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80425

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　under 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80426. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

アイテム

資料番号: L-80426

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80427. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80427

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80428. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80428

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80429. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80429

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80430. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80430

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80431. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80431

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80432. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80432

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80433. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80433

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80434. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80434

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80435. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80435

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80436. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80436

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80437. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80437

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80438. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80438

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80439. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80439

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80440. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80440

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80441. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80441

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80442. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80442

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80443. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

アイテム

資料番号: L-80443

範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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