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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80444. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80444
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β　　over exp.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80445. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80445
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80446. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80446
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80447. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80447
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80448. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80448
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80449. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80449
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80450. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80450
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80451. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80451
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80452. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80452
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80453. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80453
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80454. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80454
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80455. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80455
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A. 日付元記載「2/6」.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80456. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80456
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80457. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80457
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80458. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80458
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80459. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80459
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80460. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80460
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80461. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80461
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80462. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80462
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80463. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80463
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)D.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80464. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80464
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 200.

(備考)α　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80465. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80465
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80466. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80466
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 200.

(備考)β　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80467. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80467
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80468. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80468
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)order 220. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80469. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80469
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80470. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80470
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 220.

(備考)γ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80471. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80471
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80472. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80472
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)order 220.

(備考)γ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80473. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80473
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80474. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80474
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)ord. 220 -g　. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80475. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80475
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80476. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80476
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)ord. 220 -g　.

(備考)δ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80477. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80477
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80478. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80478
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 220 -g　.

(備考)δ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80479. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80479
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)」.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80480. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80480
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2nd obs. Area G. 日付元記載「1992. 2. 6.」.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80481. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80481
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80482. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80482
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80483. Cu, Au+ irrad, BF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80483
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80484. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80484
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80485. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80485
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80486. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80486
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80487. Cu, Au+ irrad, BF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80487
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80488. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80488
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80489. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80489
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80490. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80490
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)反対側のマスク位置でやり直し Area J α.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80491. Cu, Au+ irrad, ED., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80491
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area J　α.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80492. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80492
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area J　α.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80493. Cu, Au+ irrad, BF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80493
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area J　α.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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