北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80603. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80603

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 13 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80604. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80604

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 13 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80605. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80605

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 14 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80606. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80606

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 16秒？.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80607. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80607

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80608. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80608

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80609. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80609

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80610. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80610

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80611. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80611

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80612. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80612

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80613. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

アイテム

資料番号: L-80613

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80614. Ag, 100keV Ag+, DF., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80614

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80615. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80615

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「2/7」.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80616. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80616

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80617. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80617

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80618. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80618

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80619. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80619

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80620. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80620

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80621. Ni, 0.5MeV He+, DF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80621

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80622. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80622

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80623. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80623

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80624. Ni, 0.5MeV He+, BF, 10K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80624

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80625. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80625

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　エッジ.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80626. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80626

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所　エッジ.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80627. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80627

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80628. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80628

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80629. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80629

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80630. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80630

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80631. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80631

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　625と関連.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80632. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80632

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80633. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80633

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　631より1視野奥明るい所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80634. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80634

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80635. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80635

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80636. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80636

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80637. Ni, 0.5MeV He+, ED., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80637

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80638. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80638

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80639. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80639

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80640. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80640

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80641. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80641

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80642. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80642

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80643. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80643

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80644. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80644

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80645. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80645

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80646. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80646

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)stereo用　644と対.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80647. Ni, 0.5MeV He+, DF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80647

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80648. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 30K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80648

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80649. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 30K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80649

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80650. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80650

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80651. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80651

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80652. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80652

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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