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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80653. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80653
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80654. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80655. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80656. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80656
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80657. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80658. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80659. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80660. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80661. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80662. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, ED., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)110.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80663. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80664. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　　」　　　　　　　　　　　　　　　　　　.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80665. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80665
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒. 日付元記載「1992. 2. 7」.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80666. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80666
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒　16秒？とりなおし.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80667. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80667
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒　16秒？とりなおし.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80668. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80668
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒？.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80669. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80669
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80670. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80670
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80671. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80671
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80672. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80672
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 19 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80673. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80673
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 19 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80674. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80674
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 20 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80675. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80675
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 20 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80676. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80676
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 21 s＝6 16? 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80677. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80677
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 21 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80678. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80678
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 22 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80679. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 50K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80679
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area 22 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80680. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80680
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80681. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80681
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80682. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80682
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80683. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80683
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80684. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80684
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 24 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80685. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80685
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 24 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80686. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80686
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80687. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80687
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝5 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80688. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80688
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝3 2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80689. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80689
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝6 8秒 下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80690. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80690
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝? 2秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80691. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80691
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝6～7 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80692. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80692
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝4 2秒　　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80693. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80693
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝6　8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80694. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80694
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝‽　2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80695. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80695
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝6　8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80696. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80696
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝4　2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80697. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80697
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝6 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80698. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80698
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝?　2.8秒　上と同じ場所　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80699. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80699
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝6～5　8秒　下と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80700. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80700
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝3 2.8秒　上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80701. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80701
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 29 s＝6 8秒　下と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80702. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80702
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 29 s＝? 2.8秒　上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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