北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80804. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)厚さ測定用 110 pole付近.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80805. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, BF, 30K., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80806. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, ED, 55cm., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
(備考)↓.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80807. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, BF, 30K., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80808. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, ED, 55cm., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80809. Au蒸着膜, B12, 21MeV Au6+, BF, 30K., [1992年2月10日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B12. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80810. Au蒸着膜, B04, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B04. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)日付元記載「2/11」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80811. Au蒸着膜, B04, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B04. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80812. Au蒸着膜, B04, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B04. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80813. Au蒸着膜, B04, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B04. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80814. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80815. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80816. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)多いところ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80817. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80818. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)少ないところ(メッシュの下にあった領域と思われる.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80819. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)少ないところ(メッシュの下にあった領域と思われる.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80820. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80821. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80822. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80823. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80824. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80825. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80826. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80827. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80828. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF, 100K., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α A. 日付元記載「1992. 2. 13」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80829. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80830. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80831. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80832. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80833. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80834. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80835. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80836. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80837. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80838. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80839. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80840. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80841. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80842. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80843. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80844. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80845. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80846. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80847. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80848. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80849. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80850. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80851. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80852. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80853. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
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- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16