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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80908. NO2, RT, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80908
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6分3秒.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80909. NO2, RT, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80909
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)8分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80910. NO2, RT, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80910
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)33分4秒　と思う.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80911. NO2, RT, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80911
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)20分　と思う.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80912. NO2, RT, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80912
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)59分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80913. NO2, 300℃, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80913
範囲と内容

(試料)NO2. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)8分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80914. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80914
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80915. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80915
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80916. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80916
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1分.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80917. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80917
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)21sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80918. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80918
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)41sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80919. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80919
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80920. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80920
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3min50sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80921. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80921
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)9min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80922. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80922
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)途中でやめた.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80923. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80923
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80924. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80924
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80925. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80925
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)63min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80926. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80926
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80927. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80927
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80928. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80928
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)交差付近. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80929. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80929
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80930. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80930
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80931. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80931
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)すぐ上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80932. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80932
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80933. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80933
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80934. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80934
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80935. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80935
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)3段になっているところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80936. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80936
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)単相のところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80937. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80937
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80938. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80938
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80939. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80939
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)すぐ下.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80940. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80940
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　GB近く.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80941. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80941
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80942. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80942
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80943. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80943
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80944. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80944
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なり前.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80945. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80945
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)見える.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80946. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80946
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)完全に重なり　見えない.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80947. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80947
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80948. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80948
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80949. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80949
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80950. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80950
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80951. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80951
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80952. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80952
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80953. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80953
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80954. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80954
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80955. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80955
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80956. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80956
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80957. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80957
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左の交差部分　　」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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