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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81126. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He+ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)-100. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.

(備考)多数の細かいdot.

日付: [1992年]3/8.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81127. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81127
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)日付元記載「3/24」.

日付: [1992年]3/24.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81138. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/25.

 アイテム
資料番号: L-81138
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)日付元記載「3/25」.

日付: [1992年]3/25.

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主題
北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993