北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81568. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81569. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81570. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81571. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81572. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81573. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81574. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81575. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81576. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81577. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81578. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81579. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81580. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81581. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81582. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81583. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81584. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81585. Cu, Cuイオン., 1992. 7. 4.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81586. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)試料チェック 1sec. 日付元記載「1992. 7. 4」. 実験者元記載「三間. 福田」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81587. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81588. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)5.6sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81589. Ag, DF, 100K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81590. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81591. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)1sec. 実験者元記載「(矢印でこの行までと示し)福田」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81592. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)1sec. 実験者元記載「(矢印でこの行からと示し)三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81593. Ag, DF, 50K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)8sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81594. Ag, DF, 100K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)8sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81595. Ag, DF, 7.3K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)7.3K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81596. Ag, DF, 7.3K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)7.3K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81597. Ag, DF, 7.3K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)7.3K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81598. Ag, DF, 7.3K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)7.3K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.18sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81599. Ag, DF, 7.3K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)7.3K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81600. Ag, DF, 15K., 1992. 7. 4.
(試料)Ag. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81601. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area① α -1.5赤0(240)8sec. 日付元記載「1992. 7. 8」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81602. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)0.5sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81603. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)8sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81604. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)8sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81605. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81606. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α +1.0赤0(100).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81607. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -0.5黒6(130).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81608. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area② ②-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81609. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81610. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81611. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81612. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81613. Cu, Cuイオン120keV, ED., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)②-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81614. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81615. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81616. Cu, Cuイオン120keV, DF, 100K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81617. Cu, Cuイオン120keV, DF, 50K., 1992. 7. 8.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②-1.
追加の絞り込み:
- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16