北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81972. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81972

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81973. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81973

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの左.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81974. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81974

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの右.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81975. Ni, Heイオン, 10K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81975

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)10K.

(備考)ごみのあるところ数10cm右動いた所.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81976. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81976

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もとに戻す.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81977. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81977

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81978. Ni, Heイオン., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81978

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン.

(備考)失敗　中の穴のみ.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81979. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81979

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81980. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81980

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81981. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81981

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81982. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81982

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81983. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81983

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81984. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81984

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81985. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81985

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81986. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81986

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81987. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81987

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81988. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81988

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81989. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81989

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81990. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81990

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81991. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81991

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81992. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81992

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81993. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81993

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81994. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81994

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-1. 日付元記載「7/16」.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81995. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81995

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81996. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81996

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81997. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81997

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-3.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81998. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81998

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81999. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81999

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82000. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82000

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82001. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82001

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82002. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82002

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82003. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82003

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82004. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82004

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82005. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82005

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82006. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82006

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82007. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82007

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82008. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82008

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82009. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82009

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-4.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82010. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82010

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-4.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82011. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82011

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-5.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82012. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82012

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 7-5.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82013. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82013

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82014. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82014

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82015. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82015

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82016. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82016

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 10-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82017. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82017

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 11-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82018. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82018

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 11-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82019. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82019

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 11-2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82020. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82020

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-6.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82021. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-82021

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 8-1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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