北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82176. ED., [1992年7月22日.]
(Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82177. ED., [1992年7月22日.]
(Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Kikuchi pattern.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82178. ED., [1992年7月22日.]
(Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82181., [1992年7月22日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82182. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S=6.
(備考)area①-1. 日付元記載「7/23」. 実験者元記載「福田・三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82183. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S=6.
(備考)①-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82184. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)①-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82185. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 50K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)①-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82186. Ag, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)①-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82187. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α+15.7黒0(220).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82188. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 73K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)β+14.1赤6(230).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82189. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Area①-1別の所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82190. Ag, Cuイオン照射120keV., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82191. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82192. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82193. Ag, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82194. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)Area②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82195. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82196. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)Area②別の所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82197. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82198. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82199. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s=6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82200. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)Area ③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82201. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)Area ③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82202. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s=4.
(備考)Area ③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82203. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)Area ③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82204. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 150K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s=6.
(備考)Area ③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82205. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82206. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)Area④.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82207. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 50K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=4.
(備考)Area④.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82208. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Area④.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82209. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)Area④.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82210. V, BF, 50K., [1992年]7/23.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)日付元記載「7/24」. 実験者元記載「西畑」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82211. V, BF, 50K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82212. V, BF, 20K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82213. V, BF, 20K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82214. V, BF, 20K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82215. V, BF, 50K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82216. V, BF, 10K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82217. V, BF, 10K., [1992年]7/24.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82219. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)50. 日付元記載「8/7」. 実験者元記載「西畑」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82220. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)50.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82221. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)100.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82222. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)100.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82223. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)150.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82224. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)175.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82225. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)175.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82226. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)175.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82227. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)175.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82228. V, DF, 50K., [1992年]8/7.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)150.
追加の絞り込み:
- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16