北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82482. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82482

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82483. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82483

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)1つはずし.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82484. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82484

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2つはずし.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82485. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82485

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2つはずし.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82486. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82486

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3つはずし.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82487. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82487

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3つはずし.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82488. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82488

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-2.5黒0-3（280）A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82489. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82489

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82490. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82490

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αA.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82491. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, Bf, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82491

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)Bf. (条件・倍率等)50K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82492. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, ED., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82492

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82493. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, BF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82493

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αA.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82494. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, BF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82494

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82495. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82495

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-1黒15-18（220）A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82496. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82496

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82497. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82497

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82498. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82498

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82499. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, ED., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82499

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82500. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82500

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)γ-1.5黒9-12（260）A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82501. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82501

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)γ　B.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82502. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82502

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)γ　A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82503. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82503

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)γ　B.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82504. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

アイテム

資料番号: L-82504

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A.

日付: [1992年]9/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82505. Ag, Heイオン照射, 一番弱い., [1992年]9/28

アイテム

資料番号: L-82505

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い.

(備考)B.

日付: [1992年]9/28

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82506. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82506

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-5.0黒12（200）2つはずし. 日付元記載「10/15」.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82507. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82507

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82508. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, ED., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82508

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82509. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, ED., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82509

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82510. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82510

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82511. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82511

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82512. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82512

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82513. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82513

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82514. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82514

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82515. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82515

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82516. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82516

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82517. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 100K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82517

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82518. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, ED., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82518

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)別の視野.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82519. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 30K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82519

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α＋6.5赤6（40）　3つはずし.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82520. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 30K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82520

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82521. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82521

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82522. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82522

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82523. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, ED., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82523

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82524. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, BF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82524

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β＋13.0赤6（220）.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82525. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, DF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82525

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82526. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82526

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82527. Cu, Heイオン照射, 2.2x10E19He+/m2, 30K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82527

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2x10E19He＋/m2. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82528. Cu, Heイオン照射, 0.88x10E19He+/m2, BF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82528

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88x10E19He＋/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-8.0黒0（260）. 日付元記載「10/15」.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82529. Cu, Heイオン照射, 0.88x10E19He+/m3, DF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82529

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88x10E19He＋/m3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82530. Cu, Heイオン照射, 0.88x10E19He+/m4, ED., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82530

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88x10E19He＋/m4. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82531. Cu, Heイオン照射, 0.88x10E19He+/m5, DF, 50K., [1992年]10/15.

アイテム

資料番号: L-82531

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88x10E19He＋/m5. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]10/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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