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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9172. Cu-2Ni, G290, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9172
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G290. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9173. Cu-2Ni, G290, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9173
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G290. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9174. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9174
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9175. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9175
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9176. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9176
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9177. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9177
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9178. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9178
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9179. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9179
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9180. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9180
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9181. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9181
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9182. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9182
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9183. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9183
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9184. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9184
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9185. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9185
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9186. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9186
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9187. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9187
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9188. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9188
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9189. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9189
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9190. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9190
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)d大大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9191. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9191
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9192. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9192
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9193. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9193
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9194. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9194
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9195. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9195
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9196. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9196
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9197. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9197
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9198. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9198
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9199. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9199
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9200. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9200
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9201. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9201
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9202. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9202
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9203. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9203
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9204. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9204
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9205. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9205
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9206. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9206
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9207. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9208. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9209. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9210. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9210
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9211. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9211
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9212. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9212
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9213. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9213
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9214. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9214
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9215. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9215
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9216. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9216
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)以下diff略　near110 蛍光板上で下向きg.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9217. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9217
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9218. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9218
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9219. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9219
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9220. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9220
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9221. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9221
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

(備考)一部に光るもの多数、そこのみ　汚れ？.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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