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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82984. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年11月5日.]

 アイテム
資料番号: L-82984
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年11月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82985. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED., [1992年11月5日.]

 アイテム
資料番号: L-82985
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82986. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年11月5日.]

 アイテム
資料番号: L-82986
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年11月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82987. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年11月5日.]

 アイテム
資料番号: L-82987
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年11月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82988. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82988
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)日付元記載「11/5（木）」.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82989. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82989
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82990. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82990
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82991. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82991
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)A.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82992. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82992
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)B.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82993. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82993
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82994. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82994
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82995. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82995
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82996. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82996
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)A'.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82997. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82997
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B'.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82998. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82998
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82999. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-82999
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)同じ場所.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83000. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83000
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)同じ場所.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83001. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83001
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)同じ場所.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83002. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83002
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同じ場所.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83003. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83003
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83004. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83004
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83005. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 50K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83005
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83006. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83006
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)α.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83007. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83007
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)β.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83008. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83008
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83009. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83009
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83010. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83010
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83011. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/5（木）.

 アイテム
資料番号: L-83011
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/5（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83012. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83012
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)日付元記載「11/6（金）」.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83013. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83013
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83014. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83014
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83015. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83015
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83016. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83016
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83017. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83017
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83018. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83018
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83019. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83019
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83020. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83020
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83021. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83021
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83022. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83022
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83023. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83023
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83024. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83024
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)A.

日付: [1992年]11/6（木）.
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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83025. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83025
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)B.

日付: [1992年]11/6（木）.
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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83026. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 50K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83026
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83027. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, BF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83027
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83028. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, ED., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83028
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83029. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83029
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)A'.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83030. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83030
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)B'.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83031. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83031
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83032. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83032
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83033. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/6（木）.

 アイテム
資料番号: L-83033
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/6（木）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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