メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4296. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4296
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4297. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4297
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4298. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4298
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4299. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4299
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4300. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4300
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4301. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4301
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4302. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4302
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4303. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4303
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4304. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4304
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4305. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4305
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4507. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4508. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4509. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4510. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4511. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4512. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4513. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4514. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4515. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4516. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4517. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4518. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4519. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4520. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4521. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4522. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4523. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4524. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4524
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4525. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4525
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4526. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4526
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4527. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4527
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4528. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4528
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4529. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4529
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4530. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4531. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4532. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4533. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4534. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4535. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4536. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4537. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4538. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4539. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4540. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4541. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4542. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4543. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4544. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4545. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4546. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ