メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5458. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5459. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5460. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5460
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5461. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5462. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5463., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5463
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5464. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5465. Ni, A-1, 300K, SS, 42K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5466. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5467. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5468. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5469. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5470. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5471. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5472. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5472
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5473. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5473
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5474. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5474
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5475. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5475
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)これ以前対物絞り4.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5476. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5476
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)これ以降対物絞り3.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5477. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5477
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5478. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5478
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5479. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5479
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5480. Ni, A-1, 300K, SS, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5480
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5482. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5482
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5483. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5483
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5484. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5484
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5485. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5485
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5486. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5486
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5487. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5487
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5488. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5488
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5489. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5489
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5490. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5490
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5491. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5491
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5492. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5492
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5493. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5493
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5494. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5494
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5495. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5495
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5496. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5496
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5497. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5497
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5498. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5498
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5499. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5499
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5500. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5500
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5501. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5501
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5502. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5503. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5504. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5505. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5506. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5507. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5508. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ