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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6306. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6306
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6307. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6307
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6308. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6308
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6309. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6309
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6310. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6310
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED　.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6311. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6311
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6312. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6312
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6313. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6313
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6314. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6314
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6315. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6315
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6316. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6316
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6317. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6317
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6318. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6318
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6319. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6319
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6320. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6320
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α -6.2, 0.0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6321. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6321
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6322. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6322
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6323. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6323
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6324. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6324
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6325. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6325
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6326. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6326
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6327. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6327
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6328. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6328
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6329. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6329
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6330. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6330
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　 ＋3.5, -1(60)黒.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6331. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6331
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6332. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6332
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6333. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6333
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6334. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6334
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6335. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6335
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6336. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6336
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6337. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6337
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6339. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6339
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)日付元記載「1985.5.9」. 実験者元記載「Kojima」.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6340. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6340
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6341. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6341
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2枚あり.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6342. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6342
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6343. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6343
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6344. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6344
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6345. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6345
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6346. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6346
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6347. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6347
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6348. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6348
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6349. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6349
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6350. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6350
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6351. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6351
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6352. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6352
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6353. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6353
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6354. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6354
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6355. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6355
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6356. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6356
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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