メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6458. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, DF, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6458
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6459. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6459
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6460. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6460
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6461. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6461
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6462. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6462
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6463. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6463
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6464. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6464
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6465. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6465
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6466. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6466
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6467. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6467
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6468. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6468
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6469. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6469
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6470. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6470
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6471. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6471
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　　　3.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6472. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6472
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6473. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6473
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上10,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6474. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6474
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　　　5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6475. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6475
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6476. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6476
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6477. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6477
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上17,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6478. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6478
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)メインの系列に直行のスポット使う.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6479. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6479
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6480. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6480
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6481. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->301K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6481
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞301K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6482. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6482
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6483. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6483
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6484. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6484
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Fring.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6485. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6486. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6487. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 200K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6488. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6489. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6490. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6490
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6491. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6492. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6493. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)1 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6494. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)2 step undr.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6495. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6496. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6497. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6497
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6498. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6498
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Medi小 1 step over.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6499. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6499
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)Medi小 2 step under.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6500. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6500
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6501. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6501
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6502. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6502
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6503. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6503
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)220反射. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6504. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6504
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6505. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6505
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111反射. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6506. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6506
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6507. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6507
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)析出物のスポットなし.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ