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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7439. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7439
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7440. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7440
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7441. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7441
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7442. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7442
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7443. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7443
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)Just.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7444. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7444
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7445. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7445
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7446. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7446
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7447. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7447
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボケ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7448. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7448
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7449. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7449
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7450. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7450
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7451. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7451
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)日付元記載「6/14」.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7452. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7452
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7453. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7453
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7454. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7454
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7455. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7455
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7456. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7456
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7457. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7457
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7458. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7458
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7459. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7459
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7460. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7460
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7461. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7461
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7462. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7462
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7463. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7463
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7464. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7464
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7465. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7465
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7466. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7466
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7467. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7467
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7468. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7468
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上と少しずれる.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7469. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7469
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7470. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7470
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7471. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7471
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7472. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7472
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7473. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7473
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7474. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7474
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7475. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7475
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7476. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7476
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7477. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7477
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7478. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7478
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7479. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7479
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7480. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7480
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7481. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7481
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7482. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7482
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7483. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7483
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7484. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7484
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7485. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7485
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7486. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7486
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7487. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7487
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)TW　Bulk　TEM内焼鈍.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7488. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7488
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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