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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7589. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7590. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7591. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7592. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7593. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7594. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7595. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7595
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7596. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7597. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7597
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7598. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7598
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7599. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7599
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7600. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7600
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7601. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7601
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7602. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7602
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7603. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 31K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7603
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7604. Ni, A26, RTNS=II, 400K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7604
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7605. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7605
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7606. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7606
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7607. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7607
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7608. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7608
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7609. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7609
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7610. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7611. Ni, A26, RTNS=II, 400K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7612. Ni, A23, RTNS=II, 200K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7613. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7614. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7614
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7615. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7615
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7616. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7616
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7617. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7617
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7618. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7618
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7619. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7619
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7620. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7620
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7621. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7621
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7622. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7622
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7623. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7623
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7624. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7624
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7625. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7625
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7626. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7626
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7627. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7627
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7628. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7628
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7629. Ni, A23, RTNS=II, 200K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7629
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7630. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7630
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7631. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7631
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7632. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7632
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7633. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7633
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7634. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7634
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7635. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7635
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7636. Ni, A23, RTNS=II, 200K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7636
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7637. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7638. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7638
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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