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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8122. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8123. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8124. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8125. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8126. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8127. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8128. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)ぼつ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8129. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8130. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8131. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8132. Ni, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8133. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8134. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8135. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8136. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8137. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8138. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8139. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8140. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8141. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8142. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8143. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8144. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8145. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8146. Au, RTNS=II, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8146
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8147. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8147
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8148. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8148
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8149. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8149
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8150. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8150
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8151. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8151
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8152. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8152
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8153. Au, RTNS=II, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8153
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8154. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8154
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8155. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8155
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8156. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8156
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8157. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8157
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8158. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8158
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8159. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8159
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8160. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8160
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)隣の視野.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8161. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8161
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8162. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8162
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8163. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8163
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8164. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8165. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8166. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8167. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8168. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8169. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8170. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8171. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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