メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8222. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8223. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8224. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8225. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8226. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8227. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8227
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8228. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8228
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8229. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8229
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8230. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8230
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8231. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8231
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8232. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8232
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8233. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8233
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8234. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8234
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8235. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8235
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8236. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8236
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8237. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8237
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8238. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8238
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8239. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8239
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8240. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8240
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8241. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, ED, 57cm., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8241
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8509. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)日付元記載「7/8」.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8510. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8511. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8512. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8513. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8514. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8515. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8516. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8517. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8518. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8519. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8520. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8521. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8522. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8523. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8524. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8525. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8526. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8527. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8528. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8529. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8530. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8531. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8532. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8533. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8534. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8535. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8536. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8537. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8538. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ