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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9472. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9473. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9474. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9475. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9476. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9477. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9478. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9479. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9480. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9481. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9482. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9483. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9484. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9485. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9486. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9487. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9488. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9489. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9490. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9491. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9492. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9493. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9494. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9494
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9495. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9495
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9496. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9496
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9497. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9497
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9498. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9498
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9499. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9499
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9500. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9500
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9501. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9501
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9502. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9502
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9503. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9503
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9504. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9504
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ特になし.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9505. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9505
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9506. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9506
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9507. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9507
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9508. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9508
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9509. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9509
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9510. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9510
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9511. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9511
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9512. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9512
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9513. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9513
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9514. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9514
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9515. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9515
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9516. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9516
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9517. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9517
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9518. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9518
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9519. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9519
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9520. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9520
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9521. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9521
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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