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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11985. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11985
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)5′15″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11986. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11986
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′35″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11987. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11987
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)8′05″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11988. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11988
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)9′15″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11989. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11989
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′08″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11990. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11990
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′45″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11991. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11991
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11992. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11992
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)2′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11993. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11993
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11994. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11994
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)5′50″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11995. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11995
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)7′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11996. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11996
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)10′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11997. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11997
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11998. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11998
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)125℃　　1.8ｍV　0′10″ X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11999. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11999
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12000. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12000
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12001. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12001
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12002. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12002
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′40″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12003. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12003
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12004. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12004
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)2′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12005. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12005
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12006. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12006
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12007. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12007
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12008. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12008
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)7′50″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12009. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12009
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)10′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12010. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12010
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)150℃　2.3＜−＞150℃　0′15″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12011. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12011
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′05″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12012. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12012
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)2′05″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12013. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12013
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12014. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12014
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12015. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12015
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12016. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12016
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)7′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12017. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12017
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)8′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12018. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12018
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12019. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12019
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)175℃＜−＞　2.75　0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12020. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12020
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′40″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12021. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12021
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12022. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12022
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′25″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12023. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12023
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12024. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12024
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)9′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12025. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12025
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)200℃＜−＞3.20ｍV　0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12026. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12026
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′45″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12027. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12027
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12028. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12028
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12029. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12029
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)9′20″ FCC＝0.554nA.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12030. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12030
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A 　α　-9.2、5（240）黒.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12031. Au-Ni100, G028Kuramoto, RTNS-II, 60℃, S, DF, 100K., 1989. 9. 11.

 アイテム
資料番号: O-12031
範囲と内容

(試料)Au-Ni100. (試料番号)G028Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A 　α. 日付元記載「1989. 9. 11.」. ”1985. 9. 11.”の誤りか.

日付: 1989. 9. 11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12032. Au-Ni100, G028Kuramoto, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1989. 9. 11.

 アイテム
資料番号: O-12032
範囲と内容

(試料)Au-Ni100. (試料番号)G028Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)A 　α.

日付: 1989. 9. 11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12033. Au-Ni100, G028Kuramoto, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1989. 9. 11.

 アイテム
資料番号: O-12033
範囲と内容

(試料)Au-Ni100. (試料番号)G028Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A 　α.

日付: 1989. 9. 11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12034. Au-Ni100, G028Kuramoto, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1989. 9. 11.

 アイテム
資料番号: O-12034
範囲と内容

(試料)Au-Ni100. (試料番号)G028Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　　α.

日付: 1989. 9. 11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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