北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14856. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14856

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14857. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14857

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)0.5A　-100℃　0′10″.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14858. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14858

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1′30″.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14859. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14859

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2′30″.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14860. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14860

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4′15″.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14861. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14861

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)5′45″ just focus.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14862. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14862

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′10″ over 3 step.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14863. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14863

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′25″ under 3 step.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14864. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14864

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14865. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14865

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14866. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14866

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14867. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

アイテム

資料番号: O-14867

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)日付元記載「1985. 11. 25.　ここまで　 pm10:00」.

日付: 1985. 11. 25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14868. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14868

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　-50℃ 0.55A. 日付元記載「1985. 11. 26.」.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14869. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14869

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14870. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14870

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14871. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14871

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14872. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14872

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14873. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14873

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14874. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14874

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14875. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14875

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14876. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14876

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14877. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14877

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14878. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 26.

アイテム

資料番号: O-14878

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14879. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14879

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14880. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14880

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14881. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14881

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14882. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14882

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14883. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14883

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14884. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14884

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14885. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14885

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14886. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14886

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14887. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14887

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14888. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14888

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14889. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

アイテム

資料番号: O-14889

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14890. Ni, MK-31, Cryo-traansfer, DF, 52K., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14890

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (照射条件)Cryo-traansfer. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A. 日付元記載「1985. 11. 26日」.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14891. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14891

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14892. Ni, MK-31, SD., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14892

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)SD.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14893. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14893

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14894. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14894

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14895. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14895

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 3.26mV(～100℃）5min.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14896. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14896

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14897. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14897

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14898. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14898

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14899. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14899

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A .

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14900. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14900

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Aの下.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14901. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14901

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14902. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14902

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの下.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14903. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14903

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14904. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14904

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Cの下.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14905. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

アイテム

資料番号: O-14905

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

追加の絞り込み:

42504 コレクションおよび/またはレコード表示: